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Sumix MAX-QM+工业自动干涉仪 光学轮廓仪

简要描述：Sumix MAX-QM+工业自动干涉仪 光学轮廓仪

上海皕赫李经理VX：bihec3018
电：I73I7355928

  • 产品型号：
  • 厂商性质：代理商
  • 更新时间：2024-08-20
  • 访  问  量：117
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产品分类PRODUCT

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详细介绍

品牌其他品牌产地类别进口
应用领域能源,电子,航天,电气,综合

Sumix MAX-QM+工业自动干涉仪 光学轮廓仪

Sumix MAX-QM+ 是一款自动干涉仪，用于检测 MTP®/MPO、ST、FC、SC、LC、MU、E2000™、SMA 类型的单光纤和多光纤连接器以及 MT、MT-RJ 套圈。

Sumix MAX-QM+ 测量速度快、设计便携、自动对焦和大视场，每排可测试 12 或 16 根光纤，这些都使 MAX-QM+ 成为大批量生产线中广受欢迎的解决方案。

Sumix MAX-QM+ 配备行业的 MaxInspect™ 软件，用于光纤连接器的干涉检测。

Sumix MAX-QM+工业自动干涉仪特征：

1：高分辨率 2D 和 3D 表面轮廓

探索小至 2.2 μm 的表面细节。

2：自动对焦

将操作员的操作降至低，只需单击一下。

3：高达 5700 μm 的大视场

测量从导向孔到导向孔的连接器。

4：快速测量

测量多光纤连接器最快只需 3 秒。

5：与创新的侧视+前视灯具兼容

克服 MTP®/MPO 测量中的电缆张力和套圈定位不确定性，并控制其他参数 – 导孔、平行度和角度。

6：MT16 和 MT32 检验

紧跟最新的市场技术。

7：符合人体工程学的夹具设计

通过轻松插入套圈/连接器和夹具处理来节省时间。

8：数据库连接

将所有本地站点的测量数据存储在一个地方，并轻松地将 Sumix 设备集成到您的制造系统中

MAX-QM+ 干涉测量系统包括：

  • MAX-QM+干涉仪

  • 用于设备验证的光学平面标准

  • USB 3.0 数据线

  • AC适配器

  • 内六角扳手

  • 箱

  • MaxInspect™ 软件许可证

Sumix MAX-QM+工业自动干涉仪 光学轮廓仪

Sumix MAX-QM+ 规格

测量技术：非接触式;迈克尔逊干涉测量法
镜头：NA = 0.15;平坦度误差 < λ/50
照明 灯：绿色 LED （530 nm）
视场角：5.6 × 4.2 毫米
横向分辨率：2.2微米
放大：100×（数码变焦关闭）
重点：自动和手动
最大图像尺寸：2590 × 1940 像素
适合连接器/套圈（PC 和 APC）：MTP®/MPO、MT、MT16/32、MT-RJ、SMA、SC、FC、ST、LC、MU、E2000™、MIL 规格终端
显微镜模式：不是





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