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| 品牌 | 其他品牌 | 应用领域 | 化工,能源,电子,电气,综合 |
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LK-TECHNOLOGIES 低能电子衍射仪(LEED)-RVL2000
自1998年以来，LK一直在全球范围内提供*LEED低能电子衍射仪系统。
低能电子行射(LEED)仪是一种基本的表面仪器。它是分析表面结构的有效工具。它不仅能够研究清洁的单晶(金属、半导体及绝缘体)的表面结构,还能研究气体吸附的结构。图1是它的工作原理图。在超高真空条件下,低能电子枪发射的电子束垂直打到样品上,被样品表面上晶体点阵反向散射,在一定的条件下,背散射的弹性电子形成许多行射场分析器(RFA)拒斥非弹性电子,只允许行射束通过并在荧光屏上形成许多光斑。
LK-TECHNOLOGIES 低能电子衍射仪(LEED)RVL2000低能电子衍射仪(LEED)的精密反向LEED低能电子衍射仪光学元件采用所有UHV结构，无需使用玻璃纤维或聚合物涂层线束。提供完整系列的型号和选件，包括低电流（nA，pA）MCP型号。所有光学器件均采用4网格结构，以实现与俄歇电子能谱AES连用
采用4格钨光学元件的精密结构
微型1.59厘米直径电子枪
103度可用视角
0.5％的能量分辨率
提供可伸缩光学元件（标准2英寸和最大4英寸缩回）
安装法兰具有整体视口和电气穿通装置
与UHV兼容（不使用聚合物涂层或玻璃纤维绝缘线）
低噪音，高性能的俄歇电子设备，带有集成锁定放大器
MCP版本的pA和nA电流水平
全系列选项包括低调快门，CCD摄像头和软件，6英寸和8英寸外径法兰型号
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